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» Data I/O Glossar


Sie können den von Ihnen gesuchen Begriff nicht in unserem Online-Glossar finden? Sie haben einen Tipp, welcher Begriff hier eigentlich nicht fehlen darf? Bitte teilen Sie uns dies einfach in einer kurzen E-mail mit. Wir werden Ihren Beitrag zu unserem Glossar gerne aufnehmen. Besten Dank schon jetzt für Ihre Hilfe!

» Die Programmierung mit Data I/O Geräten
   

Die aktuelle Programmierarchitektur in Data I/O Geräten ist so konstruiert, dass der Baustein quasi in das Schaltschema des Programmiergeräts integriert wird. Damit erreichen wir unglaublich kurze Programmierzeiten, die sich der theoretischen Betriebsgeschwindigkeit des zu programmierenden Bausteins immer weiter annähern. Bei der Bausteinprogrammierung laufen mehrere Unterprozeduren ab. Mit unseren Geräten lassen sich diese individuell festlegen. Idealerweise wählen Sie nur die aus, die Ihnen einen maximalen Output garantieren. Trotzdem sind Sie im Hinblick auf den Durchsatz, je nach Gerät, auch eingeschränkt.

   
» Zu einem typischen Programmiervorgang gehören folgende Unterprozeduren:
   
Continuity Testing

Das Programmiergerät prüft, ob alle entscheidenden Pins mit den Sockelkontakten verbunden sind. Diese Methode wurde in den frühen 80iger Jahren von Data I/O zusammen mit Testingenieuren unterschiedlicher Halbleiterhersteller entwickelt, um die Programmierung betriebssicherer zu machen. Die meisten Bausteine besitzen ESD-Schutzdioden und andere parasitäre Komponenten wie Widerstände und Kapazitäten, die dafür verantwortlich sind dass Strom fließt, wenn der Baustein an eine invertierte Spannung angeschlossen wird. Das heißt, wenn die Versorgungsspannung (VSS) positiv wird, erzeugt das an den zu testenden Pins messbare Effekte, weil diese im Bezug zur VSS auf ein negatives Niveau gezogen werden.

Da keine Bausteintechnologie der anderen gleicht, gibt es mehrere Möglichkeiten die Pins zu testen. Die jeweils richtige Methode wird dann bestimmt, wenn der Bausteinsupport erstellt wird. Bei einem kleinen Teil der Bausteine kann ein Continuity Test nicht durchgeführt werden. Dann geht man davon aus, dass bei einem eventuell fehlenden Kontakt der Baustein durch einen der anderen Tests ausfällt.

Electronic Identifier Comparison (I.D. Checking) Hat der Baustein eine eingebaute elektronische Kennung, gleicht das Programmiergerät diese mit dem Code des ausgewählten Bausteins ab. So ist gewährleistet, dass auch der richtige Programmieralgorithmus selektiert wurde.
Blank Checking Um sicherzustellen, dass keine Zellen programmiert sind, vergleicht das Programmiergerät „word by word“ jede Zelle des Bausteins, ob sie dem Leerzustand entspricht.
Illegal Bit Checking

Der „illegal bit“-Zustand tritt immer dann auf, wenn der Versuch unternommen wird, eine programmierte Zelle durch erneutes Programmieren zu löschen. Bit für Bit vergleicht das Programmiergerät die zu programmierenden Daten mit seinem eigenen RAM-Speicher, damit es überhaupt nicht zum „illegal bit“-Zustand kommt.

Das gilt nicht für byte-löschbare Bausteine, bei denen der Löschvorgang in die Programmierung integriert ist, aber für alle anderen Bausteine inklusive denen, welche auf einmal gelöscht werden müssen wie z.B. Flash EEproms.

Programming

Bei der Programmierung werden Daten in den Datenspeicherbereich eines programmierbaren Bausteines geschrieben. Weil diese Art der Bausteine allgemein als „Read Only“ fungieren, benötigen viele vor allem ältere Bausteintechnologien eine spezielle Beschaltung. Außerdem müssen diese Chips während der Programmierung vom Schaltkreis isoliert sein.

Die korrekte Programmierung von Speicherzellen programmierbarer Bausteine erfordert spezielle Algorithmen. Diese Algorithmen werden vom Bausteinhersteller spezifiziert. Data I/O Geräte garantieren, dass immer der richtige Algorithmus verwendet wird – vorausgesetzt der richtige Baustein wurde vorher ausgewählt.

Data Verification

Wort für Wort vergleicht das Programmiergerät die Daten mit den geladenen im eigenen RAM-Speicher. Das vollzieht sich in zwei Schritten: einmal mit VCC am unterem Limit und einmal mit VCC am oberen Limit gesetzt. Wenn die 1-Pass-Verifizierung gewählt wurde, wird VCC auf den Nominallevel gesetzt. All diese Level sind im Abschnitt „DC Eigenschaften“ der Bausteinspezifikation definiert. Viele Programmiergerätehersteller halten eine Dataenverifizierung für überflüssig, weil die Daten auf dem Baustein schon während des Programmierens überprüft werden. Die interne Automatik des Chips bestätigt aber nur die Daten, die von außen geliefert werden. Hat ein Pin also keinen richtigen Kontakt, können Daten- oder Adressbits verloren gehen. Gerade weil die Kontaktierung nach wie vor mechanisch geschieht, ist es nicht immer möglich, während des gesamten Vorgangs optimale Kontakte zu gewährleisten.

Obwohl die Data I/O Geräte so zuverlässig sind, dass eine nachträgliche Kontrolle nicht unbedingt nötig wäre, empfehlen wir nach der Programmierung zumindest die 1-Pass-Verifizierung durchzuführen.

   
» Allgemeine Programmierprozeduren
 

 

Functional Verification Programmierbare Logikbausteine (PLDs), deren „Design Output-Datei“ im Jedec 3x-Datenformat ist, haben optional Testvektoren. Der Jedec 3x-Standard definiert Symbole für Stimulus- und Testbedingungen. Sind also Testvektoren in der Datei vorhanden, legt das Programmiergerät entsprechende Stimuli an und testet die Outputsignale.
File Download from Host Computer Das Programmiergerät empfängt die Daten von einem Hostrechner. Während des Herunterladens werden die Programmdaten in komprimierter Form übertragen, in binäre Daten übersetzt und im RAM des Gerätes gespeichert.
Fill Programmer RAM

Das Programmiergerät belegt seinen RAM mit den entsprechenden Daten. Die Daten werden spezifiziert als Byte oder Word, und mit diesem Byte oder Wort wird der ganze Baustein programmiert.

Wenn all die oben genannten Unterprozeduren für den Programmiervorgang gewählt wurden, ergibt sich diese Abfolge:

  1. Fill Programmer Ram
  2. Download Data from Host Computer
  3. Continuity Testing
  4. I.D. Checking
  5. Blank Testing
  6. Illegal Bit Testing (nur bei Ausfall von Blank Testing)
  7. Data and Feature Programming
  8. Data Verification
  9. Functional Verification (nur Logikbausteine)
  10. Security Bit Programming (falls anwendbar)
  11. Security Bit Verification (falls anwendbar)
 
» Sprint - Programmiersysteme
   
TOP Kontaktstation Dual in line oder PLCC für Optima, Dual, Quad oder Octal Grundgerät.
TOP84PLC Universelle PLCC-Kontaktstation 20 - 84 Pins.
Insert Positionierrahmen für TOP84PLC oder TOP1PLC. 20 / 28 / 32 / 44 / 52 / 68 oder 84 Pin.
FlashTop Besteht aus Aufnahmestation (FlashTOP Base) und FlashTOP Adapter für flash-übliche Gehäuseformen. Ermöglicht gleichzeitiges Programmieren von 4 Flash Bausteinen.
SMP Maintenance Plan - Updates der Programmieralgorithmen.
Site Programmierplatz auf Dual, Quad oder Octal.
Gang Mehrfachprogrammierung mindestens zwei gleicher Bausteine auf gleichen Kontaktstationen (TOPs)
Swap Ermöglicht bei MultiSyte (Dual, Quad oder Octal) das Einsetzen von ICs während bereits auf anderen Plätzen (Sites) programmiert wird. Beispiel: Octal - auf den oberen vier Plätze wird gerade programmiert; Zur gleichen Zeit können die unteren Plätze mit Bausteinen bestückt werden und umgekehrt.
Mod Hardwarevoraussetzung, die der Programmieralgorithmus benötigt, um bestimmte Bausteine programmieren zu können. z. B.: New ASICs, BaseV7, und/oder Mod 1/98.
 
» UniSystem - Programmiersysteme
   
Site48 48 Pin Dual in line Modul (nur für UniSite Programmiergerät)
PinSite: Modul für UniSite zur Aufnahme verschiedener universeller Kontaktstationen wie PLCC, SOIC, PGA oder PPI Base.
Base Universelle Kontaktstation PLCC 20-84 Pins, SOIC .150 - 520.mil oder PPI.
PPI Package Pinout Interface
PPI-Base Universelle Aufnahmestation für alle verschiedenen Bausteingehäuseformen durch Adapter (PPI Adapter).
MatchBook™ Positionierrahmen für universelle PLCC/LCC und SOIC Kontaktstationen. PLCC/LCC » 20 Pin bis 84 Pin SOIC » .150mil bis .520mil (Gehäusebreite entspricht 8 Pin bis 44 Pin)
PADs Kontaktfolien zum Schutz der tatsächlichen Pins der PLCC oder SOIC-Base
KeepCurrent
Algorithmus
Neuer oder modifizierter Programmieralgorithmus, der als Download auf der Data I/O WebSite erhältlich ist. Wird im nächsten oder über nächsten Algorithmen-Update aufgenommen
Extended (Beta) Algorithmus: Wie KeepCurrent, zur schnellen Unterstützung der Kunden, jedoch noch ohne Dokumentation.
 
» TaskLink Steuerungssoftware
   
TaskLink Win Steuerungssoftware für Windows® 9x/NT4.0/2000. TL Win unterstützt alle aktuellen Programmiergeräte außer Programmierautomaten der ProMaster-Serie, PP100 und PS200/300.
Task Programmier - Aufgabe unter Verwendung definierter Parameter.
Kit Zusammenfassung mehrerer Tasks.
Administrator Mode Bediener kann alle Programmierparameter frei definieren oder Tasks/Kits erstellen und programmieren.
Operator Mode Bediener kann nur Tasks/Kits, die im Admin mode erstellt wurden, zur Programmierung verwenden
 
» Gehäuseformen
   
DIP Dual In-Line Package
SDIP Shrink DIP
PLCC Plastic Leaded Chip Carrier
JLCC J Leaded Chip Carrier
LCC Leaded Chip Carrier
SOIC Small Outline Integrated Circuit
SOP Small Outline Package
TSOP Thin Small Outline Package
VSOP Very Small Outline Package
TVSOP Thin VSOP
BGA Ball Grid Array
µBGA Micro BGA
PGA Pin Grid Array
QFP Quad Flat Pack
QFP Carrier Quad Flat Pack Carrier
CSP Chip Scale Package
CARD Memory Card
 
» Bausteintechnologien
 
Logikbausteine:
   
PLD Programmable Logic Device
CPLD Complex Programmable Logic Device
EPLD Erasable PLD
FPGA Field Programmable Logic Device
PLD Programmable Logic Device
LCA Xilinx Logic Cell Array
MACH AMD MACH family of CPLDs
FLEX Altera FPGAs
MAX Altera CPLDs
SRAM Static Ram
Antifuse Actel FPGAs
 
Microcontroller:
 
OTP One Time Programmable
 
Weitere:
 
MCP Multi-Chip Package
DCA Direct Chip Attach